掃描式探針顯微鏡 (暫停服務)

服務項目:
乾燥式測量:半接觸式掃描影像、接觸式掃描影像、相位掃描影像
Force-Distance測量:液相接觸式掃描影像

廠牌:Veeco

型號:Dimension3100

分析原理:

利用懸臂前端非常尖銳的探針,以精準的位移控制與樣品逐漸接近,當探針靠近樣品時,即會產生一距離與奈米牛頓等級的作用力,其關係如右圖。

當樣品之作用力足以影響探針時,懸臂便會曲折,而反映到懸臂反射的雷射訊號上,藉由偵測雷射訊號的偶極讓主機運算其各種作用力或樣品拓樸,即可產生力學或影像資訊。

特色:

原子力顯微鏡為掃瞄式探針顯微鏡之一,其橫向解析度約為0.5-1 nm,而縱向解析度幾達0.1 nm,具有高度之空間分辨率。此儀器能在乾燥或溶液環境下對各種樣品進行奈米等級之三維結構測量或力學分析。其對生物樣品之破壞性微小,且無須繁複之樣品處理。除能針對合成之奈米粒子進行多種in vitro特性之測量外,並可藉由力學測量探究各種活體微小分子之反應或變化,為目前可對活體進行結構測量之儀器中具備最高解析能力之設備。

收費標準

服務項目 院內單位 院外單位
院內計畫 外接專案計畫 學術單位 產業及其他機構
標準探針量測 2,500/3hr 3,000/3hr 5,000/3hr 5,000/3hr
超過三張影像後每張加價 100/張 100/張 100/張 200/張
註:
1. 使用者須提供樣品固定狀態良好之試片
2. 特殊探針需自備

儀器操作人

王譽朝;分機38102