雷射掃瞄共軛焦分光光譜顯微鏡

分析原理：

利用光學針孔光圈 ( pinhole ) 蒐集來自樣品聚焦面( focus plane )的光所形成的影像，並且排除掉於光學針孔光圈外的非同一聚焦面( out-of focus plane )的影像，即產生共軛焦點影像 ( confocal Image )。樣品放置在傳統顯微鏡底下，會產生許多迷光 ( stray light )；反之，共軛焦顯微鏡只採集焦點處的信息，則可以提供更高的光學解析、更佳的 axial 及 lateral 解析 ( point Spread function )。

特色：

• 去除傳統顯微鏡影像的迷光，提供較佳的光學解析
• 提供樣品顯微結構的3D立體掃描
• 光學斷層連續掃描
• 多樣性的組合掃描應用：如 X-T, Y-T, XY, XY-T, XYZ…等
• 長時間影像記錄
• 連續感測光譜可調範圍：430 – 750 nm
• 雷射系統：405nm 25 mW; 488 nm 15 mW; 532 nm 15 mW; 635 nm 15 mW