- 熱重量分析儀(TGA):測定物質加熱過程之重量變化
- 示差掃瞄熱量分析儀(DSC):測定物質熱焓分析
- 桌上型X-Ray繞射儀:解析晶態物質中分子的整體結構
- 拉曼光譜儀:結構鑑定
- 奈米粒俓及介面電位量測儀(DLS & zeta potential):測量水溶液中1奈米~6微米之粒子粒徑大小及介面電位(APD雷射奈米粒俓、Zeta電位及分子量量測儀)
- 奈米粒徑與表面電位分析儀:
- 奈米粒徑: 10 nm-2 μm (1-10 nm須為高品質之樣品)之奈米顆粒溶液尺寸分布測量。
- 表面電位測量。
- 為求測量之準確性,未知樣品可代測黏滯係數,但不提供單獨測量黏滯係數服務。
- 奈米粒俓量測儀(SMPS):測量空氣中奈米粒子粒徑大小,需搭配乾式奈米粉塵產生器及奈米粒子暴露箱
- 材料比表面積及孔徑分析儀:測定物質的比表面積、孔徑體積及孔徑大小分布;適用範圍:2 nm~100 nm
- 掃描式電子顯微鏡:分析物體的表面,例如金屬或非金屬的斷裂面、磨損面、塗層結構等的觀察研究。主要包括:材料、半導體、冶金、機械、礦物、地質、 生物、醫學、化學、物理等
- 生物型穿透式電子顯微鏡:觀察奈米顆粒試片、觀察負染色有機樣品、觀察生物組織超薄切片、EDS元素分析
- 冷場發射掃描式電子顯微鏡:生物及非生物樣品表面與立體結構之觀察及成像、EDS元素分析