奈米粒徑及介面電位量測儀(DLS & zeta potential)

分析原理：

利用雷射光射入含有粒子的溶液中，當雷射光撞擊到粒子後會產生散射光，量測散射光隨時間的變化而計算出粒子之粒徑分佈。主要是由於粒子處於非絕對零度溶液中，本身具有動能而產生布朗運動(Brownian motion)，此運動與粒子的大小具有相關性。介面電位則是利用粒子因帶電性於外加電場中之泳動行為所造成光散射現象轉換成粒子之介面電位。

特色：

• 粒徑測量：結合背向光散射(Back Scattering)量測專利技術及ALV設計的光子比對器，突破傳統動態光散射法在濃度上的限制，並提高儀器的靈敏度，NIBS技術可以對1 ppm~40 wt%高濃度樣品做量測顆粒粒徑。應用於蛋白質和聚合物、奈米顆粒、乳化液、製藥、碳粉、墨水等等樣品。
• 介面電位：結合雷射都卜勒法＋M3＋PALS (phase analysis light scattering)專利技術解決低介電常數粒子的量測困擾，並能夠對水分散和非水分散體系中的zeta電位進行精確的測量。同時可擴充自動滴定器(MPT-2)，自動執行量測樣品與酸鹼值或導電度與添加物之關係曲線，進一步求得等電位點，增加實驗的方便性。