奈米粒徑與表面電位分析儀

¹奈米顆粒粒徑原理：雷射光源照射於奈米顆粒溶液時，顆粒會使雷射光散射。藉由觀察不同尺寸奈米顆粒之布朗運動程度不同，其影響雷射光散射之程度不同，演算出集體性的尺寸與尺寸分布。

²表面電位原理：利用奈米顆粒在不同外加電場中之泳動行為不同，其所造成之光散射行為可轉換成顆粒之移動性，並可演算為表面電位。

¹雷射光源波長660 nm，可避開大部分物質之吸收波長。

²偵測器為90度之傳統角度，有利於測量大部分之奈米顆粒。

³具備多種擬合演算模式(NNLS, CONTIN,…)，可挑選最佳擬合模式進行尺寸運算。

⁴尺寸分布可利用各種單位演算強度或數量(須了解樣品之表面折射率)。

⁵粒徑與表面電位測量皆有簡易版與進階版操作介面，適合多種需求之使用者。

⁶適用於奈米粒徑: 10nm~2μm (1-10nm須為高品質之樣品)之奈米顆粒溶液尺寸分布測量。