奈米粒徑與表面電位分析儀

分析原理：

• 奈米粒徑原理：雷射光源照射於奈米粒子溶液時，粒子會使雷射光散射。藉由觀察不同尺寸奈米粒子之布朗運動程度不同，其影響雷射光散射之程度不同，演算出集體性的奈米尺寸與尺寸分布。
• 表面電位原理：利用奈米粒子在不同外加電場中之泳動行為不同，其所造成之光散射行為可轉換成粒子之移動性，並可演算為表面電位。

特色：

• 雷射光源波長660 nm，可避開大部分物質之吸收波長。
• 偵測器為90度之傳統角度，有利於測量大部分之奈米粒子。
• 具備多種擬合演算模式(NNLS, CONTIN,…)，可挑選最佳擬合模式進行尺寸運算。
• 尺寸分布可利用各種單位演算強度或數量(須了解樣品之表面折射率)。
• 粒徑與表面電位測量皆有簡易版與進階版操作介面，適合多種需求之使用者。
• 適用於奈米粒徑: 10 nm-2 μm (1-10 nm須為高品質之樣品)之奈米顆粒溶液尺寸分布測量。